Сайт бібліотеки  >  Електронний каталог  >  Опис документа

Опис документа

Богданов А. В., Бень А. П., Хойна С. И.
Релаксация обратного тока диодов шоттки после их магнитно-импульсной обработки (МИО)

Вид документа:  Складова частина документа 
Мова:  Російська  Обсяг:  с. 66-68 
УДК:  621.9 

Аннотацiя:

Надежность работы всех полупроводниковых приборов в первую очередь зависит от качества изоляции р-п-перехода и других приборов. В данной работе на основе проведенных ранее авторами исследований, анализа литературных данных, а также по исследованию долговременной релаксации диодов Шоттки после их МИО, сделан вывод о возможности неразрушающего контроля и диагностики надежности работы диодов методом их МИО. Долговременную релаксацию тока в работе предложено обьяснять донорно-акцепторной рекомбинации носителей заряда.

Є складовою частиною документа Автоматика. Автоматизация. Электротехнические комплексы и системы [Текст] : науч.-техн. журн. № 1 / учредитель : Херсон. гос. техн. ун-т, М-во образован. и науки Украины, НАНУ и др. — Херсон : Ред. журн. ААЭКС, 2010.

Теми документа

• УДК/6 Прикладнi науки. Медицина. Техніка/62 Машинобудування. Технiка в цiлому/621 Загальне машинобудування. Ядерна технiка. Електротехнiка. Машинобудування в цілому/621.9 Обробка та формоутворення за допомогою зняття стружки. Обробка шліфуванням. Молоти та преси