Сайт бібліотеки  >  Електронний каталог  >  Опис документа

Опис документа

Абрамов А. Д., Никонов А. И.
Метод компенсации дополнительной погрешности измерения параметров микрорельефа на основе использования оптико-электронного комплекса

Вид документа:  Складова частина документа 
Мова:  Російська  Обсяг:  С. 34-42 
УДК:  681.2 

Аннотацiя:

В статье рассматривается метод компенсации дополнительной погрешности измерения оптико-электронными средствами параметров микрорельефа поверхности, которая возникает вследствие отклонения уровня светового потока от его номинального значения. Метод основывается на определении автокорреляционных функций по изображениям анализируемых поверхностей.

Є складовою частиною документа Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика [Текст] : ежемес. науч.-техн. и произв. журн. № 8. — М. : Научтехмаш, 2010.

Теми документа

• УДК/6 Прикладнi науки. Медицина. Техніка/68 Галузі промисловості та ремесла, що виробляють готову продукцію/681 Точна механіка та автоматика/681.2 Приладобудування загалом. Прилади. Вимірювальна техніка та її виробництво. Ваги. Пристрої для зважування