| Аннотацiя: |
Методом импедансной спектроскопии изучено поведение FeSi-электрода в растворе 0,5 M H 2SO 4 в области анодных потенциалов от 0 до 2,2 В. Спектры импеданса интерпретированы в предположении о формировании на поверхности силицида железа оксидной пленки, преимущественно состоящей из SiO 2. Проанализирована зависимость параметров эквивалентной электрической схемы от потенциала электрода. Рассчитана толщина оксидной пленки. |
