спектроскопія рентгеноелектронна, спектроскопия рентгеноэлектронная
Документи:
- X-ray Photoelectron Sprectrospory Study of Electronic Structure of Graphene Nanosheets [Текст] / B. I. Ilkiv, , S. S. Prtrovska et al. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2015. — Т. 16, № 2. — P. 289-292. — Bibliogr. : p. 292.
- Афонин, Валерий Петрович
Метод Монте-Карло в рентгеноспектральном микроанализе [Текст] / В. П. Афонин, В. И. Лебедь ; Отв. ред. Н.Ф.Лосев. — Новосибирск : Наука, 1989. — 109 с.
- Воєвода, В. М.
Використання портативних раманівських спектрометрів для експрес-контролю виробничих процесів та аналізу у польових умовах [Текст] / В. М. Воєвода, Д. О. Меленевський, А. Г. Держипольський // Наука та інновації. — 2014. — Т. 10, № 2. — С. 79-82. — Бібліогр. в кінці ст.
- Кристало-структурна залежність розмірного енергетичного перерозподілу валентних електронів в нанопорошках діоксидів титану [Текст] / Я. В. Зауличний, О. О. Фоя, В. Л. Бекенев та ін. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2010. — Т. 11, № 1. — С. 113-120. — Бібліогр. в кінці ст.
- Взаємозв'зок між розподілом валентних електронів та електрохімічними властивостями сумішей Fe2O3/AI2O3, Fe2O3/SiO2 та y-Fe2O3/SiO2 [Текст] / Я. В. Зауличний, Ю. В. Яворська, В. Я. Ілбков та ін. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2015. — Т. 16, № 4. — C. 679-684. — Бібліогр. в кінці ст.
- Взаємодія наночастинок аеросилу з високопористими вуглецевими матеріалами, отриманими внаслідок обгару. І. Залежність енергетичного розподілу р-електронів від ступеня обгару високопористих вуглецевих матеріалів [Текст] / Б. І. Ільків, С. С. Петровська, Я. В. Зауличний та ін. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2012. — Т. 13, № 1. — C. 102-108. — Бібліогр. в кінці ст.
- Рентгенофотоелектронні дослідження лазерно-індукованих структурних змін у наношарах As50Se50 [Текст] / О. Кондрат, Н. Попович, Р. Голомб та ін. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2012. — Т. 13, № 1. — C. 77-82. — Бібліогр. в кінці ст.
- Коренкова, Г. В.
Електронна будова ортованадата CdVO4 [Текст] / Г. В. Коренкова, О. Х. Тадеуш // Фізика і хімія твердого тіла. — 2010. — Т. 11, № 3. — С. 670-674. — Бібліогр. в кінці ст.
- Лазов, М. А.
Определение стехиометрии и толщины ионно-синтезированных оксидных наноструктур вольфрама методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Текст] / М. А. Лазов, Н. В. Алов, А. А. Ищенко // Известия высших учебных заведений. Химия и химическая технология. — 2014. — Т. 57, № 2. — С. 25-29. — Библиогр. в конце ст.
- Нефедов, В. И.
Рентгено-электронная спектроскопия химических соединений [Текст] : Справочник / В. И. Нефедов. — М. : Химия, 1984. — 256 с.
- Вплив іонної імплантації SI+ на поверхневий шар монокристаличних ЗІГ- плівок [Текст] / Б. К. Остафійчук, О. З. Гарпуль, Я. Т. Соловко, В. М. Пилипів // Фізика і хімія твердого тіла. — 2010. — Т. 11, № 2. — С. 344-348. — Бібліогр. в кінці ст.
- Смирный, М. А.
Решения компании " Термо Техно" для научных исследований и промышленных лабораторий [Текст] / М. А. Смирный, Я. Б. Тарасова // Наука та інновації. — 2013. — Т 8, № 2. — С. 92-98. — Библиогр. в конце ст.
- Хохлов, С. В.
Современное аналитическое оборудование компании "Термо Техно ЛЛС" для научных исследований и промышленных лабораторий [Текст] / С. В. Хохлов, М. А. Смирный // Наука та інновації. — 2014. — Т. 10, № 2. — С. 64-69. — Библиогр. в конце ст.
|
