еліпсометрія, элипсометрия
Документи:
- Електронна структура плівок TiO2 та його нанокомпозитів [Текст] / Т. О. Буско, О. П. Дмитренко, М. П. Куліш та ін. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2011. — Т. 12, № 4. — С. 936-943. — Бібліогр. в кінці ст.
- Морфологічні та оптичні дослідження тонких плівок InSe/n-Si [Текст] / П. О. Генцарь, О. І. Власенко, М. В. Вуйчук та ін. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2012. — Т. 13, № 1. — С. 59-63. — Бібліогр. в кінці ст.
- Відбивання тонких плівок GaSe/n-SI (100) та GaSe/n-Si (111) [Текст] / М. П. Киселюк, О. І. Власенко, П. О. Генцарь та ін. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2010. — Т. 11, № 3. — C. 604-609. — Бібліогр. в кінці ст.
- Фотоіндуковане просвітлення аморфних плівок халькогенідного скла GeS2 [Текст] / М. І. Козак, І. П. Студеняк, В. Ю. Лоя та ін. // Фізика і хімія твердого тіла. — 2011. — Т. 12, № 2. — C. 337-341. — Бібліогр. в кінці ст.
- Одарич, В. А.
Еліпсометричні дослідження неоднорідності плівок HfO2 [Текст] / В. А. Одарич // Фізика і хімія твердого тіла. — 2010. — Т. 11, № 2. — С. 515-519. — Бібліогр. в кінці ст.
- Одарич, В. А.
Еліпсометричні дослідження окислення природного сколу селеніду цинку [Текст] / В. А. Одарич // Фізика і хімія твердого тіла. — 2015. — Т. 16, № 3. — С. 481-486. — Бібліогр. в кінці ст.
- Одарич, В. А.
Структура поверхні природної грані 6Н-карбіду кремнію [Текст] / В. А. Одарич // Фізика і хімія твердого тіла. — 2011. — Т. 12, № 2. — С. 295-300. — Бібліогр. в кінці ст.
|
